基于FPGA的智能控制器设计与闭环测试方法研究

摘要

提出了一种基于VHDL描述、FPGA实现的智能控制器设计和闭环测试的一般性方法.首先,借助Matlab系统仿真工具,优化得出智能控制器的算法、参数和结构;然后,基于VHDL进行智能控制器的分层设计,实现开环时序仿真测试和基于VHDL的智能控制器闭环测试;最后,在一个具体的FPGA器件上实现了智能控制器及其辅助部件.实验结果表明,采用该方法能够加快智能控制器的设计和测试进程,而且能够保证控制器的控制品质性能,是实现片上控制器设计和测试的一种有效方法.