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测量晶体电光系数的直接耦合法

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本文利用自由空间双面金属包覆波导的直接耦合技术,提出了一种测量晶体电光系数的新方法.这种方法样品制备简单,灵敏度高,预计可获得广泛的应用.

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来源
《第十届全国光电技术与系统学术会议》|2003年|1413-1418|共6页
会议地点长沙
作者
李红根; 陆海峰; 曹庄琪; 沈启舜;
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作者单位

中国光学学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类光检测技术;
关键词
直接耦合法; 电光系数; 衰减全反射; 晶体测量; 测量方法;
入库时间 2022-08-17 11:18:22

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