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用面阵CCD拼接测量大尺寸轴径的研究

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采用面阵CCD对大尺寸轴径进行高精度的拼接非接触测量,克服了单片面阵CCD测量范围小的缺点,解决了用线阵CCD拼接测量时测量带太窄又不能扩展情况下所带来的问题.面阵CCD进行图像拼接的测量方法,适用于测量128—135mm的轴径,其测量精度达到±0.01mm.

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来源
《第十届全国光电技术与系统学术会议》|2003年|604-606|共3页
会议地点长沙
作者
蔡锐; 王庆有; 马愈昭; 王飞; 朱晓华;
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作者单位

中国光学学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类光检测技术;技术测量方法;
关键词
面阵CCD; 图像拼接; 非接触测量; 轴径测量;

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专利

1. 采用面阵CCD对大尺寸轴径进行高精度测量的研究 [J] . 王庆有 ,蔡锐 ,马愈昭 . 光电工程 . 2003,第006期
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