首页> 中文会议>中国测绘学会第七次全国会员代表大会 >浅淡在MicroStation图形环境下APS解析测图仪的成图过程及点滴体会

浅淡在MicroStation图形环境下APS解析测图仪的成图过程及点滴体会

摘要

介绍改装后的APS解析测图仪在MicroStation图形环境下作业的方法及过程,并就实际工作中取得的经验及体会做一简要概述.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号