高压低温下的构造与电阻原位测量

摘要

在高压下物质的性质会发生丰富多彩的变化。高压已成为开发新材料，研究材料新性能的有效手段之一。该文在介绍日本金属材料技术研究所的独特开发的高压低温下的构造与电阻原位测量食品的同时，并报告某些应用此仪器所发现的高压下的新物性实例。作为价数摇动物质ＴｍＴｅ，通过构造变化和电阻的压力关系的研究，发现其在高压下发生了价数变化。而对于尖晶石物质ＣｕＩｒ〈，２〉Ｓ〈，４〉，则在高压下发现了随着压力增大绝缘体变得稳定的导演现象。这个结果可用ｂａｎｄ ｇａｐ ｏｐｅｎ的机理来解释。