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眭松山;
中国材料研究学会;
金属薄膜;
机译:共聚焦显微XRF原位和元素分辨测定多层膜的厚度均匀性
机译:基本参数法融合法对高点火样品的XRF分析
机译:利用基本参数法,EDXRF开发PM_(2.5)的非破坏性多元素同时分析方法
机译:基本参数法在特殊矩阵中的定量XRFA
机译:使用涂覆有聚电解质多层膜或导电膜的膜进行电驱动的离子分离。
机译:不同钒层厚度的短周期Cr / V多层膜内部结构的演变
机译:基本参数法在WDXRF对奥萨姆乌斯蒙铀矿区土壤和沉积物评估的评价
机译:具有可变层厚度(后印刷)的(mx / YBa2Cu3O7-δy)N多层膜的超导特性。
机译:使用X射线荧光光谱和能量色散(DXRF)快速方法和间接测量不包含吸收X射线元素的聚合物膜的厚度
机译:多层光学膜厚度控制方法,多层光学膜制造方法和多层光学膜溅射装置
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