基于X射线的温度测量与实验研究

摘要

将X射线对物体的成像原理与温度敏感作用机理研究相结合,研究分析了热膨胀对X射线与物质相互作用过程的影响,利用射线强度和图像灰度的关系推导得出在一定温度下物体温度和图像灰度值的关系式,并对影响温度测量精度的因素做了误差分析,得出图像灰度变化对所测温度非常敏感的结论.最后给出了实验结果.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号