XLPE电缆中水树区修复前后的微观结构变化

摘要

本文利用红外光谱检测技术观测XLPE电缆绝缘层修复前后分子结构的变化,并针对修复前后的分子结构变化进行了讨论.由于在电缆老化过程中,电缆XLPE绝缘层发生分子键断裂和氧化降解,导致电缆绝缘的分子结构改变.因此老化样本中C=O键的红外光谱吸收峰强度加强,同时甲基(-CH3)、羟基(-OH)基团的红外吸收峰强度也增强.在修复后的电缆样本中,甲基,羟基和C=O键的红外吸收峰强度明显地减弱,而C-Si键吸收峰的强度略微增强.即XLPE电缆修复前后水树区受到化学反应的影响,分子结构发生了相应的变化.