基于宽带斜探测的电离层稳态实验研究

摘要

随着通信技术的发展,近几年宽带短波通信研究取得了长足的发展,需要对电离层的特性重新认知.其中关于电离层的寿命与稳态期是一个重要的参数,涉及到设备制造与信号解调.利用宽带扩频短波探测信号对电离层进行了观测,并结合电离层理论,从电离层微观角度研究了电离层的稳态时间量度,为短波宽带通信体制的研究提供了支持.