小型速调管存储故障预测方法的研究

摘要

本文开展了一种预测某小型速调管存储故障的研究,通过对速调管存储故障模式和故障机理的分析,制定了试验方案,并对该型速调管已知存储(半年)后性能状态的五只样管进行了短期存储测试,最终确定了一种预测小型速调管存储故障的早期检测方法.该方法通过对短期(6周)存储后的小型速调管阴极发射特性的测试,可有效的预测该器件经过长期(半年以上)存储后发生存储故障的可能性.本文详细给出了预测存储故障的方法,并对某批次速调管按该方法进行了存储失效的早期筛选和试验验证,试验结果验证了该方法的有效性.该方法操作简单、判据明显、实用性强,适合不带有离子泵的小型速调管,也可推广到小型行波管等其他小型微波电真空器件.