强流电子注传输过程的测试与分析技术研究

摘要

在微波真空电子器件中,各种强流电子注成形与传输过程的物理特性对器件中电子光学系统的性能优化、注波互作用效率的提高、器件稳定性的改善,以及电子注剩余能量回收具有重要的研究价值.而目前通过对其电子光学系统的仿真设计以及直流通过率测量获得的电子注传输特性,已远远不能满足现有器件性能改进及新型器件研究的需求.本文通过引入YAG:Ce晶片作为电子注截面与电流密度探测的方法,有效地解决了应用于微波真空电子器件的强流电子注传输过程的实验测量技术.通过研制出的仪器,对C波段多注速调管中电子枪静电聚焦及其在均匀场聚焦中的电子注传输特性进行了全面测量,获得了电子注最小截面、波动周期、三维传输轨迹等重要数据.同时,也对不同电子注发射及传输的差异性进行了研究,获得了具有可比性的实验结果.