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HIS在降低阵列天线单元间互耦效应中的应用研究

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本文对采用HIS结构降低天线阵列互耦效应进行了研究.设计了一种带枝节单叉形的小型化HIS结构,将其置于阵元间距为0.45个电波长的阵列天线单元之间,有效减小了相邻单元和非相邻单元之间的互耦.并将其应用于波束扫描线阵,改善了波束扫描时的阻抗匹配,特别是宽角度扫描时的驻波恶化现象,从而解决了扫描阵中扫描盲角的问题,增大了扫描阵的波束扫描范围.

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来源
《2013年全国天线年会》|2013年|401-404|共4页
会议地点广州
作者
Xia Wang; 王霞; Wenquan Che; 车文荃; WanChen Yang; 杨琬琛;
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作者单位

中国电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TN820.15;
关键词
阵列天线; 互耦效应; 高阻抗表面; 阻抗匹配; 扫描盲角;

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