某差分收发器的失效分析

摘要

近些年来,关于半导体模拟集成电路失效分析的研究越来越多,也越来越重要.通过失效分析不仅可以发现设计、制造过程中存在的问题,同时可以不断改进产品的设计水平和制造工艺,提高产品可靠性.本文通过对一款某差分接收器的异常现象进行较为深入的分析,在仪器、设备有限的前提条件下,对可能引起失效的原因用直接、间接的方法逐一排除,通过此次失效分析发现了静电引起的一种新的失效模式，即静电造成的软损伤会使得电路出现时好时坏的现象，通过改进设计，提高了该产品的抗静电能力，从而提高了产品的可靠性。