处理器鉴定检验流程分析及探讨

摘要

现有的电路质量评价的规范和标准大多数是在20世纪90年代到21世纪初制定的,面对当前工艺的处理器,如果只沿用原有的标准,其潜在的一些质量问题无法暴露,本文主要对当前生产工艺下处理器的失效机理进行了分析,对现有的集成电路鉴定检验流程及方法进行了简单介绍分析,并根据当前处理器的现状提出完善处理器电性能测试项目、稳态寿命试验方法、焊接到PCB板上后的鉴定检验项目方法的建议予以探讨.