川东焦石坝龙马溪组疑源类化石微纳米孔隙结构特征

摘要

聚焦离子束扫描电镜(Focused ion beam scanning electron microscopy,FIB-SEM)是用于纳米结构分析和纳米材料加工的仪器.聚焦离子束扫描电镜(FIB-SEM)通过聚焦离子束(Ga离子束)的连续切割和电子束的实时成像,可以清晰地在纳米尺度的分辨率下对页岩各组分尤其是孔隙进行三维、高稳定性、高质量的显微形貌及结构的观察与分析,因而在研究页岩储层的纳米级孔隙上得到广泛应用(焦堃,2015;马勇等,2014).本文尝试利用聚焦离子束扫描电镜对产自四川盆地东部焦石坝焦页一井龙马溪组的黑色页岩中的疑源类化石进行内部结构的观察，这一研究将有助于了解页岩中成烃母质为疑源类的微体化石中发育的亚微米-纳米孔隙对页岩储集空间的贡献。