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鎢组玻璃封接件电解现象的克服

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采用钨与DW-211玻璃封接的中型发射管,曾相继出现芯柱封接段的玻璃疵害,经过较长时间的观察、试验、研究,确定玻璃在一定的外界条件,如器件长时间有温度存在及电坊作用下,而发生电解现象是造成电子管在排气时真空度不高,以及电子管寿命试验过程中,芯柱玻珠处炸裂.本文著重讨论了FU-80型电子管芯柱疵害情况,并略述碟型及平板型芯柱玻璃电解现象.

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来源
《1980年中国硅酸盐学会电真空玻璃专业委员会学术年会》|1980年|10-12|共3页
会议地点大连
作者
马增海;
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作者单位

中国硅酸盐学会电子玻璃分会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TQ171.719;
关键词
钨组玻璃; 封接件; 电解现象;
入库时间 2022-08-17 11:15:27

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