钼靶X射线能谱测量

摘要

一个完整的连续X射线谱,可以反映X射线管电压、半值层、平均能量和Gy/Sv的转换系数等辐射特性.对于钼靶X射线,国际上多数发达国家计量实验室(例如美国NIST和德国BIPM等)均对其开展了能谱测量,取得了不错的结果.选用标准点源对HPGe探测器进行能量刻度，得出刻度公式为:CH=23.70034E-0.5525(其中CH为对应的道址),转换为能量与道指的关系为:E=0.04219CH+0.02332(其中CH为对应的道址).由测量结果可以看出:实测谱与CCRI理论谱的谱形、特征峰位置都较一致进一步验证了所建立的辐射模型。