BIT与ATE一体化设计技术研究

摘要

随着现代武器装备的快速发展,对武器装备的测试性要求越来越高,在产品的研制过程中,其测试性设计受到越来越多的关注.针对BIT与ATE设计分离及ATE种类繁多等问题,研究BIT与ATE一体化设计技术,主要研究测试性指标分配,测试诊断策略生成等关键技术,用以改变测试性与外部自动测试设备设计脱节的现状,有效提高产品的测试性设计,解决现有装备保障规模庞大及维护成本高的实际问题.