复杂电路板电磁辐射的微蜂窝近场测试与分析

摘要

针对复杂电路板电磁辐射状态预测与电磁兼容性设计需求,提出一种开放环境下的全频段、全局性微蜂窝近场测试方法,以解决其电磁辐射的全局性近场参数测试与状态分析问题.依据微蜂窝原理将电路板划分为若干微小单元,采用近场测试探头逐个测试微蜂窝处的近场辐射参数;将所有微蜂窝的近场参数合并处理即可得电路板全局近场辐射状态.首先通过样品板测试所得各频率的近场辐射参数比值与理论谐波系数比值的符合性,验证了微蜂窝近场测试的有效性;其次逐个、全频段测试复杂电路板的所有微单元近场辐射参数,获得复杂电路板全局近场辐射的三维及二维模式.该种方法可完成全频段、全局性辐射频率2D定位与状态跟踪,具有测试方法简单、工作量小、数据分析方便及可拓展性好的特点,弥补了传统近场仅可在有限频段内实施的缺点.