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于志伟;
中国化学会中国物理学会;
X射线衍射分析;
机译:使用点聚焦超声光谱仪同时测量局部纵向和横向波速,衰减,密度和薄膜厚度
机译:F3-XXT薄膜厚度分析仪-一种先进的薄膜测量系统,可测量高达3mm的厚度
机译:F3-XXT薄膜厚度分析仪-先进的薄膜测量系统,可测量高达3mm的厚度
机译:膜厚度分布测量装置采用光谱干涉测量:一种实现超薄薄膜高速测量的二维膜厚度测量装置
机译:图像扫描椭圆仪的设计,开发和应用,用于测量薄膜厚度轮廓。
机译:过去的宝藏VII:通过椭偏仪测量非常薄膜的厚度和折射率以及表面的光学性质
机译:使用X射线衍射仪进行应力测量时的样品曲率误差
机译:用X射线衍射法测量薄膜厚度。
机译:产品和秒的测量X =来自目标的射线-包括光束准直仪,作为聚焦组件的一部分,带有聚焦辅助装置,可简化聚焦,以测量薄膜厚度
机译:测量薄膜厚度时减小误差的薄膜厚度的方法
机译:光学记录介质,相同厚度的薄膜厚度测量方法,薄膜厚度控制方法,制造方法,薄膜厚度测量装置和薄膜厚度控制器
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