光辐照YBa<,2>Cu<,3>O<,6+x>体系缺陷浓度特性研究

摘要

该文报导了他们利用正电子湮没技术对ＹＢａ〈，２〉Ｃｕ〈，３〉Ｏ〈，６＋ｘ〉光辐照效应的研究，给出了正电子寿命参数和缺陷浓度与光辐照的关系，讨论了光辐照对ＹＢＣＯ体系载流子库怪电子结构的影响。