首页> 中文会议>第七届全国可靠性物理学术讨论会 >晶体管参数漂移的计算机仿真试验

晶体管参数漂移的计算机仿真试验

摘要

该文研究了晶体管电流增益漂移的统计规律,获得了对其均值和方差的预测方法,利用Monte-Carlo仿真对实际产品在寿命试验中的失效进行了预测,与实际试验进行对比,获得令人满意的结果。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号