、SiO<,3><'2->、SiO<,3><'2->、PO<,4><'3->、S<,2>O<,3><'2->和酒石酸根等,使多孔膜的等电点pHiep由原来的9.20分别移至)3.40,3.30,4.30.3.90和3.80,多孔膜带电性能的变化有利于常温封闭液中的金属离子进入多孔膜内,同时F<'->、S<,2>'/> 铝阳极氧化膜的界面性能与常温封闭-旷亚非王美媛王玲-中文会议【掌桥科研】
首页> 中文会议>1998年全国腐蚀电化学及测试方法学术讨论会 >铝阳极氧化膜的界面性能与常温封闭

铝阳极氧化膜的界面性能与常温封闭

摘要

采用电渗法研究了溶液中各种离子对铝阳极氧化多孔膜界面电性能的影响。结果表明,F<'->、SiO<,3><'2->、SiO<,3><'2->、PO<,4><'3->、S<,2>O<,3><'2->和酒石酸根等,使多孔膜的等电点pHiep由原来的9.20分别移至)3.40,3.30,4.30.3.90和3.80,多孔膜带电性能的变化有利于常温封闭液中的金属离子进入多孔膜内,同时F<'->、S<,2>O<,3><'2->还可通过与膜内H<'+>,H<,2>O等的相互作用,使膜孔内pH升高,而加速金属离子的膜内的水解沉积,怕进常温封闭的进行。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号