大规模集成电路γ瞬时辐射效应研究

摘要

通过该项目的研究，建立了大规模集成电路γ瞬进静诚、动态辐射试验方法和试验测试系统，通过“闪光－１”加速器γ暧进静态辐射试验，获得了存储器静态辐射下的程序擦抹规律。