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γ与EMP综合辐射与单项辐射对电子元器件损伤效应异同性研究

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该文介绍了γ与EMP辐射及γ与IEMP辐射两种试验方法，研究了γ与EMP综合辐射与单项辐射对电子元器件损伤效应的异同性，并给出了初步试验结果。

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来源
《第六届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术交流会》|1999年|317-321|共5页
会议地点扬州
作者
赵兴超;
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作者单位

中国电子学会;

中国核学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类射线与物质的相互作用;
关键词
电磁辐射;
入库时间 2022-08-17 10:32:45

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