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面向功能的测试矢量生成技术的探讨

摘要

综述了数字系统测试生成技术中结构测试和功能测试两种方法的优缺点;用实例分析了门级固定故障模型存在的问题;展望了VLSI和ASIC面向功能测试方法的发展新趋势。

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