在ICTS上显示信号波形的方法

摘要

由于计算机技术的飞速发展和普及，当代的集成电路测试系统(ICTS)都是可程控的计算机辅助测试(CAT) 的系统。为了使用户能快速、方便地开发集成电路测试程序，解决集成电路测试过程中出现的某些问题，很多ICTS都具备有类似于逻辑分析仪的逻辑定时分析功能，利用这种功能程序开发者可以方便、直观地观察到ICTS各测试通道信号之间的定时关系，很容易发现程序开发或测试过程中存在的定时错误问题。大家都知道，逻辑分析仪采集数据是以逻辑门限电平为基准的，高于门限电平为'1'，低于门限电平为'0'，因此逻辑分析仪定时分析只能显示信号从'0'变到'1'或从'1'变到'0'的电平变化及其变化时刻，不能显示信号幅度和形状（上升沿、下降沿、上冲、下冲等等）。有时集成电路测试的问题不存在于定时关系而存在于信号波形幅度或波形畸变。要观测信号波形数字化后存储起来，再显示在屏幕上供观察、测量、分析。