X射线荧光光谱法测定烧结矿中的铁、硅、钙、镁

摘要

使用X射线荧光光谱仪,采用压片法制备样品,经验系数法校正基体效应,测定烧结矿中TFe、SiO<,2>、CaO、MgO.方法的精密度较好,各组分的RAD(n=10)0.03℅～0.42℅,分析结果与化学分析方法结果相符,该法已用于烧结矿的质量控制.