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自扫描光电二极管列阵在隐形眼镜测量中的应用

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本文提出一种采用自扫描光电二极管列阵实现隐形眼镜曲率、中心厚度测量的新方法,介绍根据此方法设计的一种新型隐形眼镜测量仪.讨论了测量原理、仪器结构、光电二极管列阵信号采集以及单片机控制系统的硬件和软件设计.

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来源
《全国第六届电子测量与仪器学术报告会》|2000年|198-201|共4页
会议地点太原
作者
廖海洋;
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作者单位

中国电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类测试技术及设备;
关键词
光电二极管列阵; 隐形眼镜测量仪; 曲率; 中心厚度;

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2. 虚拟仪器实现自扫描光电二极管列阵信号峰值的采集 [J] . 徐晓林 ,杨冠玲 ,何振江 . 重庆大学学报：自然科学版 . 2000,第1期
3. PIN结构自扫描光电二极管列阵的研究 [J] . 黄友恕 ,何清义 . 光电工程 . 1995,第004期
4. PIN结构自扫描光电二极管列阵的理论分析及实验研究 [J] . 黄友怒 ,朱维安 . 重庆大学学报：自然科学版 . 1995,第006期
5. PIN结构自扫描光电二极管列阵 [J] . 何清义 ,黄友恕 ,吕果林 . 半导体光电 . 1995,第3期
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7. 自扫描光电二极管阵列图像传感器视频输出信号的研究 [A] . 刘晓明 . 1999

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