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电容测量研究铬表面钝化膜的半导体性能

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本文利用电容测量技术,研究了铬表面钝化膜的半导体性质,以及介质因素的影响.

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来源
《第十一次全国电化学会议》|2001年|123-124|共2页
会议地点南京
作者
孔德生; 陈慎豪; 王超; 李亮;
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作者单位

中国化学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类电化学、电解、磁化学;
关键词
电容测量; 铬; 钝化膜; 半导体性能;

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