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复杂屏蔽体中硅器件吸收剂量的测量

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介绍了氟化锂热释光探测器在复杂屏蔽体中硅器件X射线吸收剂量测量中的应用.分析了该屏蔽体内X射线剂量分布特点,介绍了热释光探测器的特点及使用情况,进行了氟化锂和硅材料吸收剂量的换算,给出了屏蔽体内硅器件吸收剂量的测量结果.此方法可用于加屏蔽体的半导体器件X射线辐照在线考核.

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来源
《第十七届全国核电子学与核探测技术学术年会暨核电子学与核探测技术分会第八次全国会员代表大会》|2014年|251-257|共7页
会议地点兰州
作者
ZHOU Haisheng; 周海生; MA Ge; 马戈; LUO Jianhui; 罗剑辉; WEI Fuli; 魏福利; XIA Jintao; 夏惊涛; XU Xi; 徐曦; SONG Zhaohui; 宋朝晖;
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作者单位

中国电子学会;

中国核学会核电子学与核探测技术分会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TL816.7;TL814.3;
关键词
X射线辐照; 氟化锂热释光探测器; 复杂屏蔽体; 硅器件; 吸收剂量;
入库时间 2022-08-17 10:31:48

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