首页> 中文会议>第九届全国容错计算学术大会 >测试算法评估及可测性预报系统

测试算法评估及可测性预报系统

页面导航

摘要
著录项
相似文献
相关主题

摘要

测试算法评估及可测性预报系统使用回归分析和遗传算法,为测试生成算法建立可测性参数的预报模型,使得对于给定电路,不必实际运行各测试生成算法,就可以快速评估并预报出最适合的算法.本文整体介绍了这一系统,并对其中各主要模块作了重点描述.

著录项

来源
《第九届全国容错计算学术大会》|2001年|408-410417|共4页
会议地点长沙
作者
钮颖彬; 徐拾义; 康建国;
展开▼
作者单位

中国计算机学会;

展开▼
会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类逻辑电路;
关键词
特征参数; 可测性参数; 测试算法评估; 可测试性预报系统; 逻辑电路;

相似文献

中文文献
外文文献
专利

1. 测试算法评估及可测性预报系统 [J] . 钮颖彬 ,徐拾义 ,康建国 . 计算机工程与科学 . 2001,第005期
2. 测试生成算法评估与预报系统 [J] . 杭静 ,徐拾义 . 计算机工程 . 2001,第005期
3. 混合式教学在"集成电路测试与可测性设计"课程中的实践与探究 [J] . 张颖 ,陈鑫 . 教育教学论坛 . 2020,第049期
4. 可测性设计测试向量低功耗设计方法 [J] . 胡海涛 ,钟明琛 ,陈大为 . 电子测量技术 . 2016,第11期
5. 集成电路测试与可测性设计教学内容与教学方法探索 [J] . 刘炎华 . 中国教育技术装备 . 2014,第018期
6. 功能测试与结构测试相结合的RISC微处理器测试及可测性设计方法 [C] . 杜俊 ,赵元富 . 中国航天时代电子公司第一届学术交流会 . 2004
7. 嵌入式存储器的可测性设计及测试算法研究 [A] . 白石 . 2009

获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

客服微信
服务号