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1.
Efficient RT-ievel Fault Diagnosis Methodology
机译:
高效的RT-ievel故障诊断方法
作者:
Ozgur Sinanoglu
;
Alex Orailoglu
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
2.
Controller Testing Using Combination of GAs and Symbolic Methods
机译:
结合GA和符号方法进行控制器测试
作者:
Reihaneh Saberi
;
Elham Safi
;
Zohreh Karimi
;
Zainalabedin Navabi
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
3.
An Improvement of a Test Plan Generation Algorithm for Hierarchical Test Based on Strong Testability
机译:
基于强可测试性的分层测试测试计划生成算法的改进
作者:
Tomoo Inoue
;
Naoki Okamoto
;
Hideyuki Ichihara
;
Toshinori Hosokawa
;
Hideo Fujiwara
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
关键词:
hierarchical test generation;
strong testability;
datapath;
test plan;
4.
An Approach to Non-Scan Design for Delay Fault Testability of Controllers
机译:
控制器延迟故障可测性的非扫描设计方法
作者:
Tsuyoshi Iwagaki
;
Satoshi Ohtake
;
Hideo Fujiwara
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
5.
A WGL Verification Approach Based on Polynomial Symbolic Manipulations
机译:
基于多项式符号操纵的WGL验证方法
作者:
Zhen-Jun Du
;
Guang-Sheng Ma
;
Gang Feng
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
关键词:
WGL;
polynomial symbolic manipulations;
verification;
6.
ACSAT: A SAT Solver via Solving TSP by ACO
机译:
ACSAT:通过ACO解决TSP的SAT解算器
作者:
Jianzhou Zhao
;
Jinian Bian
;
Weimin Wu
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
7.
A Sufficient Condition for Pessimistically t/t Diagnosable Systems with Application to Cube-Connected Systems
机译:
可悲的t / t可诊断系统的充分条件及其在多维连接系统中的应用
作者:
Xiaofan Yang
;
Graham M. Megson
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
关键词:
system-level fault diagnosis;
pessimistic diagnosability;
cube-connected system;
8.
A System-Level Fault Diagnosis Algorithm Based on Preprocessing and Parallel Hopfield Neural Network
机译:
基于预处理和并行Hopfield神经网络的系统级故障诊断算法
作者:
Xiaofan Yang
;
Lijun Zhao
;
Graham M. Megson
;
David J. Evans
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
关键词:
system-level fault diagnosis;
probabilisticdiagnosis algorithm;
parallel hopfield neural network;
9.
A RTL-level BIST Structure for a Remote Sensing Satellite ASIC
机译:
遥感卫星ASIC的RTL级BIST结构
作者:
Xiaodong Xie
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
10.
A Novel Register Allocation Method For Testability Improvement
机译:
一种提高可测试性的新寄存器分配方法
作者:
Saeed Safari
;
Hadi Esmaeilzadeh
;
Amir Hossein Jahangir
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
关键词:
high-level synthesis for testability;
register allocation;
conflict graph;
weighted graph coloring;
simulated annealing;
11.
A High-Level Testing Generation Method Based on Verilog RTL Model
机译:
基于Verilog RTL模型的高级测试生成方法
作者:
Yan Gao
;
Li Shen
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
关键词:
high-level testing;
RT-level;
verilog;
12.
A Fast Fault Diagnosis Algorithm for Crossed Cube Connected Multicomputer Systems under the Maeng-Malek Model
机译:
基于Maeng-Malek模型的交叉立方体连接多计算机系统的快速故障诊断算法
作者:
Xiaofan Yang
;
Graham M. Megson
;
David J. Evans
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
关键词:
system-level fault diagnosis;
comparison model;
diagnosis algorithm;
crossed cube;
13.
A Novel Partition-based Technique to Reduce Power, Time and Data Volume in Scan-based Test
机译:
一种新颖的基于分区的技术,可在基于扫描的测试中减少功耗,时间和数据量
作者:
Mohammad Hosseinabady
;
Shervin Sharifi
;
Zainalabedin Navabi
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
14.
A New Strategy and Design for Mixed Signal SOC Testing
机译:
混合信号SOC测试的新策略和设计
作者:
C.V.Guru Rao
;
Debdeep Mukhopadhyay
;
D.Roy Chowdhury
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
15.
S2-2 VRM: Verilog RTL Model for High-Level Testing
机译:
S2-2 VRM:用于高级测试的Verilog RTL模型
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
16.
S2-4 Controller Testing Using Combination of Gas and Symbolic Methods
机译:
结合气体和符号方法的S2-4控制器测试
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
17.
S5-5 Safety Checking By Problem Solving
机译:
S5-5通过解决问题进行安全检查
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
18.
S3-2 An Approach to Non-Scan Design for Delay Fault Testability of Controllers
机译:
S3-2控制器延迟故障可测试性的非扫描设计方法
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
19.
Fast and Efficient Test Point Selection Algorithm for Scan-Based BIST
机译:
基于扫描的BIST快速高效的测试点选择算法
作者:
He Hu
;
Sun Yihe
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
20.
VRM: Verilog RTL Model for High-Level Testing
机译:
VRM:用于高级测试的Verilog RTL模型
作者:
Li Shen
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
关键词:
high-level testing;
verilog;
RTL;
circuit modeling;
logic simulation;
21.
Safety Checking By Problem Solving
机译:
通过解决问题进行安全检查
作者:
Weimin Wu
;
Di Wang
;
Weiwei Zheng
;
Jinian Bian
;
Ming Zhu
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
22.
Preliminary Study Towards the EMI-Induced Bit-Flips Prediction for COTS Microprocessors
机译:
对COTS微处理器的EMI引起的位翻转预测的初步研究
作者:
F. Vargas
;
D. C. Lopes
;
D. B. Brum
;
J. Chaves da Silva
;
D. Barros Jr.
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
关键词:
electromagnetic interference (EMI);
EMI-induced fault modeling and bit-flips prediction;
COTS microprocessors;
23.
S1-5 Testing System-on-Chip by Window Cornparator of Cores′ Test Output Voltages
机译:
S1-5窗式核芯测试芯片上系统的测试输出电压
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
24.
Invited TALK:Extending the Reach of Hierarchical Test
机译:
受邀交流:扩展层次测试的范围
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
25.
S5-2 ACSAT: A SAT Solver via Solving TSP by ACO
机译:
S5-2 ACSAT:通过ACO解决TSP的SAT解算器
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
26.
S5-4 A WGL Verification Approach Based on Polynomial Symbolic Manipulations
机译:
S5-4基于多项式符号操作的WGL验证方法
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
27.
S6-1 A New Strategy and Design For Mixed Signal SOC Testing
机译:
S6-1混合信号SOC测试的新策略和设计
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
28.
S3-4 A New Low-Power Scan-Path Architecture
机译:
S3-4新的低功耗扫描路径架构
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
29.
S6-2 A Test Access Mechanism Interfacing with IEEE 1149.1 TAP for Testing I P Based System-on-a-Chip
机译:
S6-2与IEEE 1149.1 TAP接口的测试访问机制,用于测试基于I P的片上系统
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
30.
S8-2 Preliminary Study towards the EMI-Induced Bit-Flips Prediction for COTS Microprocessors
机译:
S8-2对COTS微处理器的EMI引起的位翻转预测的初步研究
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
31.
S5-1 Property Classification for Hybrid Verification
机译:
S5-1混合验证的属性分类
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
32.
S3-5 A Novel Register Allocation Method for Testability Improvement
机译:
S3-5一种提高可测性的新型寄存器分配方法
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
33.
S4-1 On Test Data Compression Using Selective Don′t-Care Identification
机译:
S4-1关于使用选择性免维护识别的测试数据压缩
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
34.
S7-3 A Fast Fault Diagnosis Algorithm for Crossed Cube Connected Multicomputer Systems under the Maeng-Malek Model
机译:
S7-3基于Maeng-Malek模型的多维数据集交叉连接的多计算机系统的快速故障诊断算法
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
35.
S6-4 Fast and Efficient Test-Point Selection Algorithm for Scan-Based BIST
机译:
S6-4基于扫描的BIST的快速高效测试点选择算法
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
36.
S7-1 Efficient RT-level Fault Diagnosis Methodology
机译:
S7-1高效的RT级故障诊断方法
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
37.
S2-1 An Improvement of a Test Plan Generation Algorithm for Hierarchical Test Based on Strong Testability
机译:
S2-1基于强可测性的用于分层测试的测试计划生成算法的改进
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
38.
S4-3 A Novel Partition-based Technique to Reduce Power, Time and Data Volume in Scan-based Test
机译:
S4-3一种新颖的基于分区的技术,可在基于扫描的测试中减少功耗,时间和数据量
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
39.
S4-4 Test Length Minimization under Power Constraints for Combinational Circuits
机译:
组合电路在功率约束下的S4-4测试长度最小化
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
40.
S5-3 Combining SystemC with Unit Test for System Level Verification of SoC
机译:
S5-3将SystemC与单元测试相结合以进行SoC的系统级验证
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
41.
S3-3 Testability Analysis Algorithm of Behavioral VHDL Description
机译:
S3-3行为VHDL描述的可测性分析算法
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
42.
S6-3 A Genetic Testing Framework for Self-Testing of Microprocessor Cores
机译:
S6-3用于微处理器核心自测试的遗传测试框架
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
43.
S7-4 A Sufficient Condition for Pessimistically tlt Diagnosable Systems with Application to Cube-Connected Systems
机译:
S7-4用于悲观的tlt诊断系统的充分条件及其在多维连接系统中的应用
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
44.
S8-1 Error Detection and Correction in VLSI Systems by Complementary Logic and Alternating-Retry
机译:
通过互补逻辑和交替重试的方法在VLSI系统中进行S8-1错误检测和纠正
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
45.
S1-1 A Wiring-Aware Approach to Minimizing Built-In Self-Test Overhead
机译:
S1-1一种可感知布线的方法,可最大程度地减少内置自测开销
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
46.
S2-3 Verilog RTL Model Based Concurrent Fault Simulation
机译:
基于S2-3 Verilog RTL模型的并发故障仿真
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
47.
S2-5 A High-Level Testing Generation Method Based on Verilog RTL Model
机译:
S2-5基于Verilog RTL模型的高级测试生成方法
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
48.
S1-2 On the Non-scan BIST Schemes under Power Constraints for RTL Data Paths
机译:
S1-2关于功率限制下RTL数据路径的非扫描BIST方案
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
49.
S1-4 A RTL-level BIST Structure for a Remote Sensing Satellite ASIC
机译:
S1-4遥感卫星ASIC的RTL级BIST结构
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
50.
S1-3 On Complete Deterministic Testing Logic in BIST for High Availability Systems
机译:
S1-3关于高可用性系统中BIST中完整的确定性测试逻辑
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
51.
S7-2 A System-Level Fault Diagnosis Algorithm Based on Preprocessing and Parallel Hopfield Neural Network
机译:
S7-2基于预处理和并行Hopfield神经网络的系统级故障诊断算法
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
52.
S3-1 Random Pattern Testability of Circuits Derived from BDDs
机译:
S3-1 BDD衍生的电路的随机模式可测试性
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
53.
S4-2 Compaction Network design for Feedback-Free MISR
机译:
无反馈MISR的S4-2压缩网络设计
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
54.
Verilog RTL Model Based Concurrent Fault Simulation
机译:
基于Verilog RTL模型的并发故障仿真
作者:
Li Shen
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
关键词:
high-level testing;
RTL;
circuit modeling;
fault model;
concurrent fault simulation;
55.
Testing System-On-Chip by Window Comparator of Cores' Test Output Voltages
机译:
通过窗口比较器对内核的测试输出电压进行片上系统测试
作者:
K. Y. Ko
;
Mike W. T. Wong
;
Y.S. Lee
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
|
2003年
56.
Testability Analysis Algorithm of Behavioral VHDL Description
机译:
行为VHDL描述的可测性分析算法
作者:
Zhang Shengbing
;
Gao Deyuan
;
Li Ying
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
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2003年
57.
Test Length Minimization under Power Constraints for Combinational Circuits
机译:
组合电路在功率约束下的测试长度最小化
作者:
Hao-Wu
;
Michiko Inoue
;
Zhiqiang You
;
Hideo Fujiwara
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
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2003年
58.
Property Classification for Hybrid Verification1
机译:
混合验证的属性分类1
作者:
Ming Zhu
;
Jinian Bian
;
Weimin Wu
;
Hongxi Xue
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
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2003年
59.
Random Pattern Testability of Circuits Derived from BDDs
机译:
由BDD衍生的电路的随机模式可测试性
作者:
Junhao Shi
;
Goerschwin Fey
;
Rolf Drechsler
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
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2003年
60.
On Complete Deterministic Testing Logic in BIST for High Availability Systems
机译:
BIST中用于高可用性系统的完整确定性测试逻辑
作者:
V.Mahalingam
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
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2003年
关键词:
built in self test (BIST);
law power design;
finite state machine (FSM);
deterministic testing;
61.
On the Non-scan BIST Schemes under Power Constraints for RTL Data Paths
机译:
RTL数据路径在功率约束下的非扫描BIST方案
作者:
Zhiqiang You
;
Michiko Inoue
;
Hideo Fujiwara
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
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2003年
62.
On Test Data Compression Using Selective Don't-Care Identification
机译:
使用选择性免维护识别的测试数据压缩
作者:
Terumine Hayashi
;
Haruna Yoshioka
;
Tsuyoshi Shinogi
;
Hidehiko
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
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2003年
关键词:
test data compression;
multiple scan structure;
don't-care identification;
test cost reduction;
63.
Error Detection and Correction in VLSI Systems by Complementary logic and Alternating-Retry
机译:
通过互补逻辑和交替重试的方法在VLSI系统中进行错误检测和纠正
作者:
Jian-Hui Jiang
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
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2003年
64.
Compaction Network design for Feedback-Free MISR
机译:
无反馈MISR的压缩网络设计
作者:
Yinhe Han
;
Huawei Li
;
Xiaowei Li
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
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2003年
65.
Combining SystemC with Unit Test for System Level Verification of SoC
机译:
将SystemC与单元测试相结合以进行SoC的系统级验证
作者:
Yan Chen
;
Bo Zhou
;
Weidong Qiu
;
Chenglian Peng
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
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2003年
66.
A Wiring-Aware Approach to Minimizing Built-in Self-Test Overhead
机译:
一种布线意识的方法,以最大限度地减少内置自测开销
作者:
Abdil Rashid Mohamed
;
Zebo Peng
;
Petru Eles
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
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2003年
关键词:
BIST insertion;
test synthesis;
wiring area;
and simulated annealing;
67.
A Test Access Mechanism Interfacing with IEEE 1149.1 TAP for Testing IP Based System-on-a-Chip
机译:
与IEEE 1149.1 TAP接口的测试访问机制,用于测试基于IP的片上系统
作者:
WANG Yong-sheng
;
XIAO Li-yi
;
YU Ming-yan
;
WANG Jin-xiang
;
YE Yi-zheng
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
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2003年
68.
A Genetic Testing Framework for Self-Testing of Microprocessor Cores
机译:
微处理器内核自我测试的遗传测试框架
作者:
Elham Safi
;
Reihaneh Saberi
;
Saeed Shamshiri
;
Zainalabedin Navabi
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
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2003年
69.
A New Low-Power Scan-Path Architecture
机译:
新的低功耗扫描路径架构
作者:
E. Atoofian
;
S. Hatami
;
Z. Navabi
;
M. Alisafaee
;
A. Afzali-Kusha
会议名称:
《RTL and high level testing : Digest of papers》
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2003年
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