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一种改进的RT级测试生成方法

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本文提出了一种改进的RT级测试生成方法,这种方法使用基于模拟的遗传算法,在使用基本块和基本块之间依存度概念的基础上对适应适函数(fitness function)作了改进,并在初始群体中增加了基于软件测试产生的个体.电路的描述使用VHDL描述语言.对ITC'99部分标准电路的测试生成结果显示了这种方法的有效性.

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来源
《第二届中国测试学术会议》|2002年|88-92|共5页
会议地点上海
作者
熊志平; 黄维康;
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作者单位

中国计算机学会;

中国计量测试学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类测试和检验;
关键词
遗传算法; VHDL; RTL电路; 测试生成; 门级测试;

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