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BESⅡμ子计数器离线数据的刻度研究

摘要

介绍了北京谱仪(BES)μ子计数器的结构以及μ子计数器离线刻度的基本原理.概述了双μ事例的挑选、μ计数器刻度常数的产生流程、Z向分辨率、几种刻度方法的异同点和改进过程.用几种刻度方法对同一批数据做了刻度以进行相互比较,并给出造成这种Z向分辨率差异的原因.

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