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大规模集成电路总剂量效应测试方法初探

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提出了初步的大规模集成电路总剂量效应测试方法.在监测器件和电路功能参数的同时,监测器件功耗电流的变化情况,分析数据错误与器件功耗电流变化的关系及其总剂量效应机理.给出了大规模集成电路:静态随机存取存储器(SRAM)、电擦除电编程只读存储器(EEPROM)、闪速存储器(FLASH ROM)和微处理器(CPU)的<'60>Coγ总剂量效应实验的结果.

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来源
《第11届全国核电子学与核探测技术学术年会》|2002年|433-436|共4页
会议地点厦门
作者
贺朝会; 耿斌; 姚育娟; 何宝平; 李永宏; 彭宏论; 林东生; 周辉; 陈雨生;
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作者单位

中国核学会;

中国电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类大规模集成电路、超大规模集成电路;测试和检验;
关键词
存储器; 微处理器; '60Coγ源; 总剂量效应; 大规模集成电路; 测试方法;

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