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ispLSI自动编程与测试技术

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本文提出了一种全新的可编程逻辑器件测试方法,解决了ispLSI器件的测试问题.我们从ispLSI的结构模型和故障模型分析入手,研制了编程模式和普通模式相结合的ispLSI测试方法.实验表明,采用这种方法测试ispLSI器件,故障覆盖率达到100﹪,并能进行故障定位.

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来源
《2002年全国电子测控工程学术年会》|2002年|136-141|共6页
会议地点武夷山
作者
吴丹; 石坚;
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作者单位

中国电子学会;

中国仪器仪表学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类专用集成电路;测试和检验;
关键词
可编程逻辑器件; 测试方法; 故障覆盖率; 专用集成电路; 自动编程; 测试技术;
入库时间 2022-08-17 10:17:00

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