粉末压片X射线荧光光谱法分析硅锰合金中锰、硅、磷、硫的含量

摘要

本文采用粉末压片X射线荧光光谱法分析了硅锰合金中锰、硅、磷和硫的含量.通过制样和压片的条件试验确定了最佳参数值,研磨时间180s、压力45MPa、称样量1.5g和保压时间20s.测定结果,与标准值相比满足准确度要求,相对标准偏差(RSD)均小于2.10％.此外,该方法无需粘结剂,测定一个样只需7分钟.说明本方法操作简便、快速,结果准确、重复性好,可用于硅锰合金的日常检验.