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硫增感卤化银薄膜中光电子衰减行为的检测

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利用短脉冲激光曝光与微波吸收相敏检测相结合的光学微波双共振技术,测量了硫增感条件下AgBrCl立方体薄膜感光材料的光电子时间衰减谱,分析了光电子一级衰减区域与增感温度的关系,讨论了硫增感的陷阱效应对光电子衰减时间和光电子不同一级衰减区域的影响.

著录项

来源
《第十届全国光电技术与系统学术会议》|2003年|126-132|共7页
会议地点长沙
作者
李晓苇; 刘荣鹃; 江晓利; 陆晓东; 赖卫东; 杨少鹏; 傅广生;
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作者单位

中国光学学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类感光材料;
关键词
曝光; 微波相敏检测; 硫增感; 光电子衰减; 感光材料; 卤化银薄膜;
入库时间 2022-08-17 11:08:15

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