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长期储存试验中敏感参数的统计分析

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本文对某型号元器件贮存7年的性能参数Y的测试数据用方差分析法进行了统计分析,发现四个贮存点(A1、A2、A3、A4)样品的性能参数Y随时间发生了显著的变化;该元器件不同贮存点的性能参数Y之间有显著的差异.因而,性能参数Y可作为该元器件的敏感参数,进行长期贮存试验具有重要意义.

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来源
《第四届电子产品可靠性与环境试验技术经验交流会》|2003年|79-83|共5页
会议地点乐山
作者
李坤兰;
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作者单位

中国电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类结构;
关键词
长期贮存; 方差分析法; 敏感参数; 统计分析; 电子元器件;
入库时间 2022-08-17 11:08:02

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