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一种无损测量碲锌镉晶片Zn组分值的便捷方法

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摘要

应用Raman显微镜测量了5块碲锌镉晶片的显微荧光谱,通过对来自碲锌镉材料带隙的荧光峰进行拟合,得出碲锌镉材料Eg值,从而可以计算出材料的Zn组分值;利用Raman显微镜的定峰位X-Y平面扫描技术,可以便捷、无损伤地给出碲锌镉晶片的Zn组分分布图.

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来源
《2003年全国光电技术学术交流会暨第十六届全国红外科学技术交流会》|2003年|169-172|共4页
会议地点武汉
作者
黄晖; 潘顺臣;
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作者单位

中国宇航学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类稀土半导体;Ｘ射线荧光分析法;
关键词
碲锌镉晶片; 显微荧光谱; Zn组分; 无损测量;

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