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存储器内建自测设计与分析

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作为可测性设计的一种,MBIST(Memory Built-in Self-test)是在电路内部置入测试电路以对Memory进行测试,它的好处是可以节省测试时间;减少测试向量的存放空间;可以很好地降低测试成本.本文基于一个实际项目介绍了有关Memory BIST的设计过程和设计分析,并给出部分结果.

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来源
《第十届全国容错计算机学术会议》|2003年|90-95|共6页
会议地点北京
作者
杨修涛; 鲁巍; 李晓维;
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作者单位

中国计算机学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类存贮器;基本电路;
关键词
可测性设计; 存储器; 控制器; 内建自测试; 测试算法;
入库时间 2022-08-17 11:06:45

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