高分辨率阵列侧向测井方法数字模拟研究

摘要

双侧向测井是一种广泛应用的电阻率测井方法，其探测深度较深，但它的缺点是垂直分辨率较差，约为0.6～O.9m，难以识别薄层和薄互层，且不能详细地描述侵入剖面。rn 本文在分析国外最近几年推出的几种新型阵列侧向测井特点的基础上，提出了一种新的高分辨率阵列侧向测井方法。该方法可提供高分辨率的5种探测深度的电阻率测量，能更清楚探测泥浆侵入剖面。文章通过数字模拟来研究这种新的阵列侧向测井的探测能力，并与双侧向测井进行了对比。