首页> 中文会议>第三届全国制药工程科技与教育研讨会 >天麻X射线衍射指纹图谱及数字化特征

天麻X射线衍射指纹图谱及数字化特征

摘要

目的:进行粉末X射线衍射(XRD)的数字化指纹图谱特征性研究,改善传统XRD法在分析中药弥散性峰形中的缺陷.方法:以天麻样品为例,测定其XRD指纹图谱,利用Philips公司定性相分析软件自动寻峰和Pseudo-Voigt函数模型进行全谱数字拟合分峰,对分峰后的峰位和相对强度进行相似系数计算和比较.结果:XRD图谱整体轮廓识别法能区分真伪天麻.呈多峰重叠弥散性的整体XRD指纹图谱,经数字分峰处理后的特征数字信息,可用于同类样品的鉴别.分峰后的相似系数计算结果可表明样品间的明显差异.结论:XRD的数字分峰处理技术及相似系数计算方法,可更有效准确地应用于中药指纹图谱的研究.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号