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X荧光融片法测定硅铝铁和硅铝钡铁中硅铝

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采用铂坩埚熔融法制样,对硅铝铁、硅铝钡铁中主量元素硅和铝进行X荧光光谱法测定.采用四硼酸锂在铂金坩埚内熔融后挂壁形成保护膜,以过氧化钠和过氧化钡混合物作熔剂,碘化铵作脱膜剂.此法不仅克服了粒度效应,而且避免了铂金坩埚腐蚀的危险,由于它的高度均质化,提高了测量的准确度,测量结果令人满意.

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来源
《中国金属学会第十二届分析测试学术年会》|2004年|228-229|共2页
会议地点北京
作者
侯艳冰; 赵伟; 王国增;
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作者单位

中国金属学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类分析、试验方法;
关键词
硅铝铁; 硅铝钡铁; 铂坩埚熔融法; X荧光光谱法; 铁合金; 基体效应;

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