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电子元器件屏蔽技术的理论与实验研究

摘要

本文首先介绍了美国SEI公司器件封装屏蔽技术的现状;分析了屏蔽技术所应用的辐射环境,空间辐射环境的电子、人为辐射环境的X射线可以采用屏蔽技术提高器件的抗辐射能力.介绍了我们目前在屏蔽技术方面的理论和实验工作,并给出了在我所ELV-8电子加速器和北京同步辐射装置开展的器件封装屏蔽的实验结果.最后给出了屏蔽效果预估的建议和方法.

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