首页> 中文会议>2005年中国合成孔径雷达会议 >双基地合成孔径雷达分辨率分析

双基地合成孔径雷达分辨率分析

摘要

本文对双基地SAR的分辨率特性进行了较为详细的分析,在此基础上对几种受到广泛关注并具有一定应用背景的特定模式进行了说明,对双基地SAR的成像算法问题进行了必要的讨论。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号