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CMOS电路瞬态电流测试技术动态

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CMOS集成电路瞬态电流(IDDT)测试技术自20世纪90年代提出以来,作为电压测试及静态电流(IDDQ)测试技术的必要补充,受到了人们的广泛关注.本文介绍了CMOS集成电路IDDT测试技术基本原理和几个关键问题,探讨了IDDT测试技术的研究进展及现状,并提出了该技术的研究发展方向.

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来源
《中国电子学会可靠性分会第十三届学术年会》|2006年|255-259|共5页
会议地点福建武夷山
作者
张鹏; 焦慧芳; 信息产业部电子第五研究所; 贾新章;
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作者单位

中国电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 BICMOS（双极-MOS混合）集成电路;
关键词
CMOS电路; 电流测试; 瞬态电流;

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