原位椭圆偏振光谱法研究多孔阳极氧化铝膜生长过程

摘要

椭圆偏振光谱法是一种高灵敏度、非破坏性的原位光谱电化学研究方法。本文采用原位椭圆偏振光谱法研究了多孔阳极氧化铝膜生长过程中膜层的厚度、组成随氧化时间的变化，其结果可用于推测多孔铝阳极氧化铝膜的生长机制，进而为设计、制造新型纳米材料模板奠定基础。