后处理设备调试中位移传感器的干扰源分析及解决措施

摘要

本文针对后处理设备调试中位移传感器发生的干扰现象,根据控制系统的具体情况,分析了可能存在的干扰源,并采取了相应措施,解决了干扰问题。